Ophir-Salesteam unter neuer Leitung
MKS Instruments überträgt die Leitung des Ophir-Salesteams in Europa an Sven Kern (48). Der Diplom-Ingenieur (FH) Lasertechnik und erfahrene Salesmanager übernimmt die Führungsaufgabe von Jürgen Reingruber, der nach fast 20 Jahren in den wohlverdienten Ruhestand verabschiedet wurde. In den vergangenen 15 Jahren hatten die beiden Laserexperten im…[mehr]
Kleine Kräfte präzise messen
Neuer SlimLine-Kraftsensor überwacht Halbleiterproduktion. Kistler hat mit dem ›SlimLine Sensor 9132CD‹ einen Kraftaufnehmer im Programm, der nach Angaben des Unternehmens neunmal empfindlicher ist als vergleichbare SlimLine-Sensoren. Er wird mit einem neuen, flexiblen und langlebigen Anschlusskabel geliefert. Damit eignet er sich insbesondere für…[mehr]
Neues Release der Messsoftware erschienen
Im Fokus standen Individualisierung und Performance. Die Qualitätskontrolle, beispielsweise mittels Koordinatenmessgeräten, ist ein wichtiger Prozess in vielen Unternehmen. Eine umfangreiche individuelle Auswertung ist jedoch nur mit der entsprechenden Software möglich. Zeiss, Oberkochen, bietet mit ›Calypso‹ eine universelle Messsoftware, die es…[mehr]
Digitales Kalibrierzertifikat entwickelt
Medienbruchfreier Transfer von Kalibrierergebnissen ermöglicht Industrie 4.0. In einer Zeit, in der Maschinen miteinander kommunizieren und der Begriff Industrie 4.0 in aller Munde ist, hat es noch gefehlt: das digitale Kalibrierzertifikat (Digital Calibration Certificate, DCC). Nun ist es da und einsatzbereit – mit vielen Vorteilen für…[mehr]
Rundumblick auf Dentalimplantate
Für medizintechnische Produkte gelten sehr hohe Qualitätsanforderungen. Um diese sicher zu erfüllen, setzt ein führender Dentalimplantathersteller auf Messgeräte mit 3D-Multisensorik und Computertomografie.
[mehr]
Abstand und Dicke von Schichten messen
Für optisch transparente Schichten, wie dünne Gläser oder Folien, ist die Interferometrie gut geeignet, um berührungslos und nm-genau messen zu können. Parallel zur Schichtdicke kann auch der Schichtabstand gemessen werden.
[mehr]
Analysiert und charakterisiert
Für die Lokalisierung von Fehlern und die elektrische Charakterisierung von Nanomaterialien steht ein neues Bewegungssystem zur Verfügung, das ein automatisiertes Kontaktieren und Manipulieren erlaubt.
[mehr]