Glänzend gemessen
Das neue Sensorsystem ›reflectControl‹ von Micro-Epsilon
Oberflächencharakterisierung technischer Spiegel. Mit dem Sensorsystem ›reflectControl‹ von Micro-Epsilon lässt sich eine automatisierte Oberflächenkontrolle spiegelnder oder glänzender Objekte mit gleichbleibend hoher Qualität durchführen. Die Ergebnisse werden in Form von 2D-Bildern und einer 3D-Punktewolke ausgegeben. Insbesondere bei ebenen Oberflächen überzeugt diese Technik laut Hersteller durch hohe Messraten bei Nanometergenauigkeit.
Der Sensor erfasst die Oberfläche technischer Spiegel mit bis zu fünf Millionen Datenpunkten, wodurch das Messobjekt präzise rekonstruiert wird. So lassen sich zahlreiche Ober flächendeformationen identifizieren. Vertiefungen wie zum Beispiel Kratzer, Dellen oder Kerben, aber auch Erhöhungen wie Pickel, Körner und Raupen können visualisiert werden. Im Amplitudenbild werden sämtliche die Reflektivität der Ober fläche verändernden Effekte dargestellt. Klassische Beispiele hierfür wären Fingerabdrücke oder andere Verschmutzungen.
Der 3D-Sensor nutzt das Prinzip der phasenmessenden Deflektometrie. Er zeichnet sich durch seine hohe Z-Auflösung im Nanometerbereich aus. In Kombination mit seinem großen Messbereich von etwa 170 5160 mm können somit innerhalb weniger Sekunden bis zu fünf Millionen Datenpunkte der zu vermessenden Oberfläche erfasst werden.
Hersteller:
Micro-Epsilon Messtechnik GmbH & Co. KG
D-94496 Ortenburg