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Förderung für neues Kompetenzzentrum



Sebastian Gemkow (Sächsischer Staatsminister für Wissenschaft, Kultur und Tourismus), Prof. Dr. Harald Kuhn (Institutsleiter, Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS) und Thomas Schmidt (Sächsischer Staatsminister für Regionalentwicklung), (v.l.n.r.)

Test und Zuverlässigkeitsbewertung von Halbleiterbauelementen. Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS in Chemnitz erhält 9,51 Millionen Euro aus dem ›Europäischen Fonds für regionale Entwicklung‹ (EFRE) und dem ›Just Transition Fund‹ (JTF) für den Aufbau eines modernen Kompetenzzentrums für die Test- und Zuverlässigkeitsbewertung von Halbleiterprodukten.

 

Der Sächsische Staatsminister für Wissenschaft, Kultur und Tourismus, Sebastian Gemkow, übergab am 18. September im Beisein des Sächsischen Staatsministers für Regionalentwicklung, Thomas Schmidt, die beiden Zuwendungsbescheide an Prof. Harald Kuhn, Institutsleiter des Fraunhofer ENAS. Die Mittel für das neue Kompetenzzentrum leisten einen wichtigen Beitrag zur Steigerung der wirtschaftlichen Attraktivität des Standorts Sachsen und zur Sicherung der europäischen Unabhängigkeit in der Halbleiterproduktion.

 

Das ›Test and Reliability Center‹ (TRC) wird als strategische Aktivität der europäischen Union Forschung und Entwicklung im Bereich des Testens und der Zuverlässigkeitsbewertung von Halbleiterbauelementen abdecken. Dies ist insbesondere von Bedeutung, da neuste Halbleiterchips und Systeme immer komplexer werden und daher neue und innovative Test- und Zuverlässigkeitsmethoden erfordern. Darüber hinaus sind Test- und Zuverlässigkeitsdaten inzwischen eine wichtige Quelle, um die Halbleiterproduktion weiter zu optimieren.

 

Das Fraunhofer ENAS verfügt über langjähriges Know-how in der thermomechanischen Zuverlässigkeitsprüfung von elektronischen Systemen. Zusammen mit der Technischen Universität Chemnitz als Projektpartner beginnt das Institut nun mit dem Aufbau des neuen Centers. Gemeinsam werden die Kompetenzen im Bereich Test und Zuverlässigkeit (Reliability) auf Modul-, Chip- und Waferebene für Forschungs- und Entwicklungszwecke schrittweise auf- und ausgebaut.

 

Im nächsten Schritt sollen Test- und Prüfprozesse für Demonstrator-, Pilot- und Kleinserien entwickelt und Unternehmen niederschwellig zugänglich gemacht werden. Schwerpunkte des TRCs werden Tests auf dem Feld der Hochleistungselektronik, Photonik und Quantentechnologien sowie von Sensoren und Aktoren, Magnetostriktion und der Aufbau einer Testdateninfrastruktur sein. Das Angebot richtet sich sowohl an Testanlagenhersteller, Halbleiterfirmen als auch an kleine und mittlere Unternehmen der Halbleiterbranche, die mit dem TRC Zugang zu experimentellen Testkapazitäten erhalten. Parallel dazu soll die Forschung an neuen Testmethoden im TRC weitergeführt werden. Damit wird das TRC die europäische Lücke im Kompetenzbereich der Test- und Zuverlässigkeitsbewertung von Halbleiterbauelementen schließen.

 

Neben Forschungs- und Transferaktivitäten soll das TRC auch zur Ausbildung von Fachkräften beitragen. An der Technischen Universität Chemnitz wird ab Oktober 2024 der neue Studiengang ›Design and Test for Integrated Circuits‹ starten, um den dringend benötigten Nachwuchs für die Halbleiterindustrie auszubilden.

 

www.enas.fraunhofer.de