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24.07.2012 | Messtechnik |

Multitalent in neuer Auflage

Das ›MicroProf‹ ist das Erfolgsmodell aus der Messgerätefamilie der Firma Fries Research & Technology aus Bergisch Gladbach. Die neueste Generation des MicroProf ist ausgestattet mit einem größeren Verfahrbereich des Scantischs, einer höheren Scangeschwindigkeit, einer serienmäßigen Schwingungsdämpfung sowie einer produktionstauglichen Umhausung…[mehr]

20.06.2012 | Messtechnik |

Spitz auf Knopf

Wenn kleinste Kügelchen bis 0,8 mm Durchmesser, 1 mm große und 0,1 mm dicke Plättchen, 1 mm lange Kegel oder kurze, dünne Stifte ab 0,5 mm Durchmesser in Bezug auf ihre Fertigungsqualität überprüft werden sollen, sind konventionelle Messsysteme meist überfordert. Jetzt hat der Applikationsspezialist Mahr aus Göttingen eine Messlösung entwickelt,…[mehr]

10.05.2012 | Messtechnik |

Produktionsnah Maß nehmen

Mit dem ›InfiniteFocusSL‹ präsentiert der österreichische Messgerätehersteller Alicona aus Grambach auf der Control 2012 ein neues optisches 3D-Messsystem zur einfachen, schnellen und hochauflösenden Messung von mikrostrukturierten Oberflächen. Anwender messen die Form und die Rauheit ihrer Bauteile mit nur einem Gerät. Zusätzlich profitieren die…[mehr]

29.03.2012 | Messtechnik |

Mikrostrukturen dynamisch vermessen

Das fasergekoppelte laserinterferometrische Vibrometer der Firma Sios Meßtechnik aus Ilmenau ist in ein technisches Mikroskop integriert. Es eignet sich zur Messung des dynamischen Verhaltens und der statischen Auslenkung von Mikrostrukturen, MEMS und Cantilevern. Das Messobjekt der Serie ›NA‹ lässt sich im Bereich von 50x50 mm oder 100x50 mm…[mehr]

29.03.2012 | Messtechnik |

Klein und extrem präzise

Künstliche Hüftgelenke, Zahnräder oder optische Linsen, Wellen mit kleinsten Toleranzen: Die Bauteile in der industriellen Fertigung werden immer kompakter, die Anforderungen an die Genauigkeit steigen. Entsprechend wächst der Bedarf an kleineren Koordinatenmessgeräten, die einenPreisvorteil bieten, aber gleichzeitig so präzise sind wie ihre…[mehr]

11.02.2012 | Messtechnik |

Schichtdickenmessung mit Reflektometer

Das spektroskopische Reflektometer ›ST2080‹ der Polytec GmbH aus Waldbronn zur Dickenmessung transparenter Schichten misst vor allem sogenannte OSP-Schichten (Organic Surface Protection) auf rauen Oberflächen wie zum Beispiel Kupferleiterbahnen. Die simultane Messung vieler Spots liefert als Ergebnis die durchschnittliche Schichtdicke sowie ein…[mehr]

11.02.2012 | Messtechnik |

Innovative Digitaltechnik

Mobile, schnelle Digitalmikroskope zeigen ihre Stärke in quantitativer 2D- und 3D-Oberflächenmessung. Mit dem Leica ›DVM2500‹ und dem ›DVM5000 HD‹ präsentiert Leica Microsystems aus Wetzlar die nächste Generation von Digitalmikroskopen. Beim DVM2500 handelt es sich um die Kombination aus schneller Fire-Wire-Kamera und kompakter Steuereinheit. Die…[mehr]

16.12.2011 | Messtechnik |

Zart betasten

Die Gießener Werth Messtechnik GmbH erweitert mit ihrem neuen 3D-Fastertaster den Einsatzbereich der bewährten Technik auf weitere Messaufgaben. Der Fasertaster weist eine Reihe von Vorteilen gegenüber Mikrotastern nach dem mechanisch-elektrischen Prinzip auf. Er ist deutlich unempfindlicher gegen Bruch, bietet kleinere Tastkugeldurchmesser (bis 20…

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