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27.02.2024 | Messtechnik | Polytec

Gekonnt messen lassen

Schwingungsanalyse und Oberflächenmesstechnik als Dienstleistung. Qualität lässt sich zwar nicht ›erprüfen‹, aber überprüfen, um dann anhand der Testergebnisse Produkte und Fertigung weiterzuentwickeln, zu modifizieren oder zu optimieren.

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24.01.2024 | Messtechnik | Zeiss

KI als Messzeitturbo in der Röntgenmikroskopie

Lange galt die Röntgenmikroskopie für die Qualitätssicherung in der Fertigung als nicht geeignet. Jetzt erhöhen KI-basierte Verfahren der Bildrekonstruktion den Durchsatz um den Faktor 100. So lassen sich die Vorteile des Verfahrens auch für At-line-Anwendungen nutzen.

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20.12.2023 | Messtechnik | Renishaw

UHV-taugliche Messsysteme für die Halbleitertechnik

Die Wahl eines Positionsmesssystems für Halbleiter- und wissenschaftliche Anwendungen richtet sich nach strengen Regeln, insbesondere in Bezug auf die Vakuumtauglichkeit sowie die Auflösungs- und Regelgüte.

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06.11.2023 | Messtechnik | Micro-Epsilon

Waferdicke exakt gemessen

Einer der entscheidenden Schritte bei der Produktion von Halbleiterwafern ist das Läppen der Rohlinge, die dabei auf eine einheitliche Dicke gebracht werden. Weißlicht-Interferometer sind geeignet, um die Schichtdicke fortlaufend zu messen.

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15.05.2023 | Messtechnik | Nikon Metrology

Röntgen-CT mit KI-Unterstützung

Künstliche Intelligenz beschleunigt die automatisierte Analyse von Batterieanoden-Überhängen bei der Röntgen-CT.

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02.05.2023 | Messtechnik | Werth | Altatec

Rundumblick auf Dentalimplantate

Für medizintechnische Produkte gelten sehr hohe Qualitätsanforderungen. Um diese sicher zu erfüllen, setzt ein führender Dentalimplantathersteller auf Messgeräte mit 3D-Multisensorik und Computertomografie.

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24.04.2023 | Messtechnik | Micro-Epsilon

Abstand und Dicke von Schichten messen

Für optisch transparente Schichten, wie dünne Gläser oder Folien, ist die Interferometrie gut geeignet, um berührungslos und nm-genau messen zu können. Parallel zur Schichtdicke kann auch der Schichtabstand gemessen werden.

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